系統分析物聯網設備天線無需屏蔽箱

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測量帶天線的無線設計產品的輻射場型圖通常需要一個測試設備機架，但這個系統不需要電波暗室只要在中等大小的房間就能進行。輻射場型圖表述了特定天線及其相關無線電路可能的覆蓋面，但產生這樣的場型圖很難。他們通常由測試信號發生器、接收器、寬帶接收天線產生，還有許多必備的測試附件如在測試中讓被測物轉動的轉臺。另一種相對常見而不便宜的測試系統附件是暗室，它防止在感興趣的頻段出現射頻干擾。

工程師探討：天線的一致性、穩定性、可靠性及其測量方法

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隨著移動通信的不斷發展，移動通信天線也經歷了從單極化天線、雙極化天線到智能天線、MIMO天線乃至大規模陣列天線的發展歷程。中國移動經過4G大發展后，目前擁有大約150萬個基站，在網天饋質量參差不齊。天線作為移動通信網絡的感知器官在網絡中的地位越來越復雜，并且越來越重要。雖然天線的投資占比較小（僅占基站投資的3%左右），但是網絡故障的40%以上是由天饋系統引起的。天饋系統質量下降會導致覆蓋性能變差，或者造成干擾問題，而且天線作為一種復雜的無源產品，其在網絡中很難監測。

工程師科普：手機的無源和有源測試

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當前在手機射頻性能測試中越來越關注整機輻射性能的測試，這種輻射性能反映了手機的最終發射和接收性能。目前主要有兩種方法對手機的輻射性能進行考察：一種是從天線的輻射性能進行判定，是目前較為傳統的天線測試方法，稱為無源測試；另一種是在特定微波暗室內，測試手機的輻射功率和接收靈敏度，稱為有源測試。

實際生活中我們如何測試手機天線

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隨著移動通信的飛速發展和應用，中國的手機行業也不斷發展壯大，當然中國的手機用戶也在迅猛增長。而手機的射頻器件中，手機天線是無源器件，手機天線作為手機上面唯一的一個“量身定做”的器件，它的特殊性和重要性必然要求其研發過程對天線性能的測試要求非常嚴格，這樣才能確保手機的正常用。現在就簡單的介紹一下手機天線的研發過程中的幾種常見的手機天線測試方法

天線近場測量技術探討

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天線特性參數的測量有多種方法，目前，主要的方法包括三大類：天線的遠場測量、天線的緊縮場測量、天線的近場測量。其中，因天線特性主要是定義在天線的遠場區故遠場測量更為直接準確，而緊縮場測量天線主要是拉近遠場所需遠場條件：d≥2D2/λ，其通常采用一個拋物面金屬反射板，將饋源發送的球面波經反射面反射形成平面波，在一定遠距離處形成一個良好的靜區。將天線安置在靜區內，測量天線的遠場特性，其類似于遠場測量，只是縮短測量距離，便于在理想遠場環境（暗室）下進行測量。

用頻譜儀測試天線方法總結

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天線性能的主要參數有方向圖、增益、輸入阻抗，駐波比，極化方試等，用頻譜儀對單收天線主要是對天線水平、俯仰方向的兩個方向圖測試，根據方向圖3dB處的角度，推算出天線增益，包絡線法則驗證天線的性能。

天線近場測量的綜述

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天線工程一問世，天線測量就是人們一直關注的重要課題之一，方法的精確與否直接關系到與之配套系統的實用與否。隨著通訊設備不斷更新，對天線的要求愈來愈高，常規遠場測量天線的方法由于實施中存在著許多困難，有時甚至無能為力，于是人們就渴望通過測量天線的源場而計算出其輻射場的方法。

天線輻射、散射近場測量及近場成像技術的研究進展

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眾所周知，在離開被測目標3λ～5λ(λ為工作波長)距離上測量該區域電磁場的技術稱為近場測量技術。如果被測目標是輻射器，則稱為輻射近場測量;若被測目標是散射體，則稱為散射近場測量;對測得散射體的散射近場信息進行反演或逆推就能得到目標的像函數，這就是目標近場成像。

時域技術在天線測量中的應用

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天線測試技術發展到目前，其測量方法已經涉及到頻域、時域、空域及數字域。但常用的測量方法仍然以頻域為主，而頻域測試的指標只是得到該指標對應于頻率的綜合響應，而無法分析和區分其他因素如接頭，傳輸線，饋電點，測試場環境反射對其影響和干擾程度，也難以去除這些影響測試準確度的干擾。

移動通信基站天線遠場測量最小距離準則

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天線方向圖遠場測量的收發距離在理論上需要達到無窮遠，以便發射源天線在被測天線口徑上的照射是理想的平面波，也即幅度均勻、相位同相。天線專業的實際應用中，幅度為了滿足一定的均勻性(也即錐削度)需要降低源天線的方向性或者增加測量距離;相位為了滿足一定的同相要求必需增加測量距離。遠場的最小距離準則主要是根據被測天線口徑上照射的相位差來確定，對于常規天線，普遍認為口徑照射相位差不得大于π/8弧度，根據這一原則，可以推導出收發天線的最小距離準則是R≥2D2/λ。